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熒光X-Ray膜厚儀

產(chǎn)品型號:	EX-3000
產(chǎn)品名稱:	螢光X線膜厚計 EX-3000
相關(guān)說明:
熒光X-Ray膜厚儀特性： 1. 采用中文窗口操作系統(tǒng)，操作性簡便。 2. 厚度測量極限:分辨率0.001um。 3. 可測試項目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、二層同時測定、元素光譜分析。 4. 油浸式微小焦點X線管，50KV管電壓，由上而下垂直照射方式。 5. 采用多頻分析器，可快速處理能譜分析，可執(zhí)行測定物之能譜分析表示，操作簡單。 6. 濾波器:采用Co、Ni金屬及數(shù)字式濾波器，可單一或同時使用。 7. 準直器：采用5種孔徑一體式之Collimator可設(shè)定任意切換方式。 8. 彩色樣品觀察系統(tǒng)，附有＋字刻度線，清楚顯示測定位置。 9. 客戶、各部品番號、批號，可登錄在頻道內(nèi)，共有300個測量頻道數(shù)。 10.自動測定測量臺，可使利用鼠標或搖桿來輸入及調(diào)整測定位置，可登錄儲存100組自動測定頻道，可作坐標補正及頻道連結(jié)。 11.采用中文窗口作業(yè)軟件，設(shè)計及打印測量報告，插入測量位置的彩色圖片、非常容易。 12.可作數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理及三次元之分布圖案。 13.自動診斷機能，故障排除對策迅速。附有X線管的使用時間及壽命表示機能，加強保養(yǎng)的安全性。 14.測定資料可保存在頻道內(nèi)，在統(tǒng)計項目設(shè)定后可做統(tǒng)計處理。

PIG 455破壞式膜厚儀

破壞式膜厚儀設(shè)計與功能：

PIG 455由1個黑色的氧化鋁部件構(gòu)成，它包含以下功能元件：

—可更換的碳化物刀頭，具有精確的角度切割刀。

—一個50倍的測量顯微鏡和一個刻度（2mm 分為100格），它也適用于檢查任務(wù)。

—兩對支腳用于支持測量顯微鏡和導(dǎo)向碳化物刀頭。

—電池槽可9V 電池

—LED可更好的照明樣品

—開關(guān)設(shè)置（點亮）

破壞式膜厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)：

測量范圍：0－200µm（標準配置）

尺寸：110×85×25mm

重量：0.4kg

顯微鏡放大倍數(shù)：50倍

刻度：2µm（1/100 格）

QuaNix 4500德國QuaNix 4500測厚儀，膜厚儀

德國QuaNix 4500測厚儀，膜厚儀品牌: 德國QuaNix （尼克斯）雙功能:Δ 測量鋼、鐵等磁性（Fe）基體上的非磁性涂鍍層的厚度;如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鋁、錫、鉛、鎘等;Δ 測量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性（NFe）基體上非導(dǎo)電層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、氧化層等。特　　點：1、只需調(diào)零、無需校準 2、Fe/NFe兩用探頭 3、一體化設(shè)計 4、自動開關(guān)機技術(shù)參數(shù)：基　　體： Fe/NFe探頭形式：一體化顯　　示： LCD數(shù)字顯示測量范圍： Fe:0-3000μm 　　NFe：0－2000μm 測量精度： 0－50μm：≤±1μm 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2% 2000－5000μm≤±3%顯示精度： 1μm工作溫度：－10 －＋60℃溫度補償： 0－50℃最小基體： 10mm×10mm最小曲率：凸、凹半徑：3mm/25mm最薄基體： Fe：0.2mm NFe：0.05mm電　　源： 5號電池2節(jié)重　　量： 110g尺　　寸： 110×60×27mm

該公司產(chǎn)品分類：光澤度測量儀 UV能量計測厚儀水分儀臭氧消毒機干手機手消毒器

CMI900膜厚儀CMI900膜厚儀測量儀

CMI900x射線熒光測厚儀

CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具，廣泛應(yīng)用于PCB，五金端子連接器，電子元氣件，等貴金屬電鍍測量行業(yè)

X-熒光鍍層測厚儀CMI900 金屬鍍層厚度的精確測量

CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，

x射線熒光測厚儀技術(shù)參數(shù)：

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)

A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。

B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um 相對與標準片

C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；

如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米x射線熒光測厚儀樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

二：x射線熒光測厚儀自動樣品臺

1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI900x射線熒光測厚儀主要技術(shù)規(guī)格如下：

No.	主要規(guī)格	規(guī)格描述
1	X射線激發(fā)系統(tǒng)	垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
		空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
		標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
		功率：50W4-50kV，0-1.0mA－標準 75W4-50kV，0-1.5mA－任選 X射線管功率可編程控制
		裝備有安全防射線光閘
2	濾光片程控交換系統(tǒng)	根據(jù)靶材，標準裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)
		二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
		位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3	準直器程控交換系統(tǒng)	最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制
		多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4	測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm準直器
		在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm使用0.3mm準直器
5	X射線探測系統(tǒng)	封氣正比計數(shù)器
		裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6	樣品室	CMI900	CMI950
	－樣品室結(jié)構(gòu)	開槽式樣品室	開閉式樣品室
	－最大樣品臺尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－Z軸程控移動高度	43.18mm	XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
	－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

CM8829SFN精密膜厚儀|漆膜測厚儀價格

CM8829SFN精密膜厚儀

CM8829SFN精密膜厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

CM8829SFN精密膜厚儀產(chǎn)品功能：測量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

CM8829SFN精密膜厚儀技術(shù)指標：產(chǎn)品型號：CM-8829S（分體傳感器涂層測厚儀）測量方法：F 磁感應(yīng) NF 渦流測量范圍：0～200um/500um/1000um/～15000um分辨率：0.1/1最小測量面積：6mm最薄基底：0.3mm 自動關(guān)機使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH度：±（1～3%n）或±2um公制/英制：可選擇電源：4節(jié)7號電池電池電壓指示：低電壓提示外形尺寸：126X65X27mm重量：81g（不含電池）測量范圍可選：0-200um to15000um

售后：

產(chǎn)品保修：一年保修（消耗品、配件除外）,終身服務(wù)（過保后只收取工本費）。貨物配送：貨物小于5KG，一般采用快遞發(fā)貨；大于5KG一般是公路、鐵路發(fā)貨。到貨期：江浙滬一般2-3天到貨; 國內(nèi)其它地區(qū)，一般3-4天。發(fā)票類型：開17%增值稅發(fā)票,普通發(fā)票。

該公司產(chǎn)品分類：熔噴布噴頭殘膠氣化爐實驗室常用儀器工業(yè)冷水機冷凍干燥機樣品前處理恒溫箱體恒溫平臺、消解儀恒溫搖床低溫、恒溫槽體

膜厚儀

采用機械磨損的方法，結(jié)合光學顯微鏡和專業(yè)軟件，可快速、簡單地測量涂層和薄膜的厚度，并且適合多層膜的測量；

電鍍膜厚儀

電鍍膜厚儀特點：中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0．001um，最小測量面積0．1mmΦ可測量合金層之厚度和組成比例可測量兩層以上鍍層之個別厚度藉由光譜分析可判定被測物之元素適用對象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。

放置型膜厚儀

放置型膜厚儀適用于沒有磁引力的uv涂層和一些金屬表面的非uv的涂層(如涂料，瓷釉，塑膠，鍍鋅層，金屬表面的氧化層等等)。bd-d5-25型的測量范圍為0-0.08英寸;；公差為+/-0.0002英寸，最大公差0.004英寸；典型運用為涂料，瓷釉，塑膠，熱鍍鋅層，金屬表面的硬化層。bd-d5-26型的測量范圍為0-0.008英寸；公差為+/-0.00004英寸,最大公差0.0008英寸；典型運用為涂料薄膜，電鍍層和磷化層。特殊測量范圍可以定做

手提式鍍層測厚儀手提式膜厚儀便攜式膜厚儀

全球款手提式 X-射線鍍層測厚儀

這一款手提式測厚儀，在大型材料及各種形狀配件鍍層厚度的無損檢測上有著明顯的優(yōu)勢。

具備“批量測試”模式，即一次可以測量出一批小樣品的總鍍層厚度及平均鍍層厚度

可廣泛應(yīng)用于建筑材料，電子，鍍金行業(yè)及公證/檢測機構(gòu)的鍍層檢測。

配置說明：

微型銀或鎢X-射線管，5個準直器。

檢測器：半導(dǎo)體高分辯率的檢測器。

電源供應(yīng)：包含兩塊可充電鋰電池和充電器。

操作溫度：-10 ~50攝氏度

FP軟件測試包：測鍍層薄膜厚度及金屬元素分析

多年來，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖！

歡迎咨詢洽談:13424255969

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Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質(zhì).

該公司產(chǎn)品分類：日本笠原微生物菌類測試管水質(zhì)快速檢測試紙水質(zhì)中離子含量測試紙共立WAK水質(zhì)試劑盒鍍層測厚儀 MICROPioneer測厚儀 MicopXRF-2020測厚儀德國羅威邦水質(zhì)分析儀共立理化學研究所水質(zhì)重金屬離子檢測 RO-103微量氧氣分析儀韓國微先鋒XRF-2020測厚儀 XRF-2000測厚儀標準片 X-RAY膜厚儀 X射線鍍層測厚儀水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀