Thick800型X熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分濃度測定。

Thick800型X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

天瑞儀器公司集中了內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠科學研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應用實踐經(jīng)驗，結(jié)合中的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的Thick800 型X熒光鍍層測厚儀具有快速、、簡便、實用等優(yōu)點，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

儀器特點：

1．   儀器外觀選用獨特的流線型設計，時尚雅致。

2．   同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。

3．   可以分析多5層鍍層，次可分析元素多達24種。

4．   無需復雜的樣品預處理過程，無損測試。

5．   檢出限可達到2ppm。

6．   分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm 。

7．   采用美原裝、際的探測器，能量分辨率高。

8．   采用美原裝、際的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定。

9．   X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示。

10． 采用彩色攝像頭，觀察拍攝樣品。

計算機分析系統(tǒng)

聯(lián)想計算機；高分辨率彩色液晶顯示器。

惠普打印機。

系統(tǒng)軟件

  際領(lǐng)先的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、

理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，面：單層、雙層、多層、合金鍍層測試數(shù)據(jù)的性。

電源 

   AC 220V～240V、50Hz 。

   額定功率：350W。選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源。

儀器尺寸、重量

  樣品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

  主機外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

  主機重量：約50KG。

應用:

塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、 其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。

廠家介紹 

江蘇天瑞儀器股份有限公司是大的鍍層測厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了外壟斷局面，性價比高，在行業(yè)內(nèi)銷量領(lǐng)先，分析儀器上市公司。公司專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質(zhì)譜儀（GCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，，手持式鍍層測厚儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務，是內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。

江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測厚儀展廳

SK2010精密零件顯微測量系統(tǒng) 

         精密零件顯微測量系統(tǒng)SK2010是一套集合了數(shù)位科技成果與計算機屏幕測量技術(shù)的數(shù)碼投影測量系統(tǒng)，它應用了獨有的雙向同步倍率校正技術(shù)（專利）, 采用獨特同軸光、底光、側(cè)光設計和具有投影與正像兩種成像方式,可以測量在7575mm范圍內(nèi)的零件局部.測量精度為±2um,調(diào)節(jié)倍率在30x－90x之間,解析度0.001mm.能夠的解決了器件的誤差和屏幕的局限和滿足各種測量倍率的要求.產(chǎn)品已經(jīng)達到業(yè)內(nèi)領(lǐng)先科技的水平;是針對精密零件制造業(yè)日益精湛的加工工藝所帶來的精確計量需求開發(fā)而成.

性能： 

◆  獨有的雙向倍率同步專利技術(shù)

◆     自動掃描收集數(shù)據(jù)

◆     30x－90x調(diào)節(jié)倍率可滿足各種測量對倍率要求

◆     具有投影和正像兩種成像方式

◆     具有消場曲和消畸變的成像特質(zhì)

◆     獨特同軸光、底光、側(cè)光設計

◆      采用sony原廠CCD攝像頭

◆      ＳＫＤ－ＣＬ２軟件系統(tǒng)可進行各種圖像測量和處理

◆     支持多種格式,可進行圖像存儲、打印、編輯、發(fā)送、格式化等.

產(chǎn)品簡介：

   WPA-200系列是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，獨特的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為不可多得的光學測量產(chǎn)品。

該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應力分布?？蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂，量化測量結(jié)果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。產(chǎn)品特點：

 操作簡單，測量速度可以快到3，

 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

 維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。

加速度：0.1～199.9m/s2（峰值，10HZ～5KHZ）速度：0.1～199.9mm/s（真值，10HZ～1KHZ）位移：0.001～1.999mm（峰-峰值，10HZ～1KHZ）電源：6節(jié)5#干電池

 技術(shù)參數(shù)：

測量單位：劑量當量值（usv/h)

          區(qū)域當量值（Bq/cm2)

測量范圍:  劑量當量值

          0.01usv/h－－-300usv/h  (校準源 Co-60)

          區(qū)域當量值

           0.1Bq/cm2 －－- 199.9 Bq/cm2 (校準源 Am-241 Sr-90)

誤差范圍：

          < 25 % 相對于 Co-60

          < 25 % 相對于 Sr-90

          < 25 % 相對于Am-241

能響范圍：光子: 20Kev－－-2Mev

          Beta：>35Kev

輻射探測器: GM 蓋革計數(shù)器

顯示：    LCD液晶顯示

電源：    2個LR的6類型AA 1.5伏工作條件：

          溫度：0 °C。 +50°C          相對濕度：最大75％ （在30°C ）重量：≤ 250克尺寸：145 ×80× 40毫米