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北京華瑞森科技發(fā)展有限公司中國區(qū)域代理銷售：TSS-5X遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀也稱為TSS-5X遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器，遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀，本測(cè)量器可以用非常簡(jiǎn)單且高精度的方式,測(cè)量在常溫中的各種物體的放射率。
TSS-5X遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀，JPS-5X遠(yuǎn)紅外線放射率測(cè)試器，遠(yuǎn)紅外測(cè)試儀早已經(jīng)由宇宙開発、原子力、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的尖端技術(shù)分類上所采用。從研究開発應(yīng)用至生產(chǎn)線上的應(yīng)用等，可供活用的范圍非常廣泛。
TSS-5X遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀應(yīng)用：
1、在機(jī)器的熱設(shè)計(jì)中必須使用的零件的放射率測(cè)量；
2、藉由放射溫度計(jì)的測(cè)量物體來補(bǔ)正放射率；
3、各種零件的加工／處理前后的放射率比較；
4、其他、從零件的放射率求取物體本身的放射率等；
5、材料科學(xué)院、實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域必須的檢測(cè)分析設(shè)備。
TSS-5X遠(yuǎn)紅外線發(fā)射率測(cè)試儀產(chǎn)品構(gòu)成：
1．紅外線照射源
藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在試料中集中照射。
2．紅外線檢驗(yàn)素子
從試料反射出的能量的一部分，射進(jìn)半球面黒體爐的頂點(diǎn)的小孔，用一定比率做檢驗(yàn)。
注：比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來決定。
3．放射率演算回路
從反射能量檢驗(yàn)器的輸出，演算試料的放射率。
注：試料的反射率和放射率的關(guān)系式如下：r εε＝1－r
4．放射率表示値的校正
利用附屬的放射率基準(zhǔn)片（ε＝0＇．0＇6與0＇．94）做校正
測(cè)量原理：利用恒溫放射的遠(yuǎn)紅外線放射源，將能量照射后計(jì)算所反射的能量。
測(cè)量波長：2-22μｍ
測(cè)量范圍：0.00-1.00
額定精度：±0.01
測(cè)量面積：Φ15mm
測(cè)量距離：12mm（固定偵測(cè)頭的腳柱部）
被測(cè)物溫：10-40℃（室溫）
輸 出：0-0.1V，0-1V（滿載）
使用溫度：10-45℃
使用濕度：35-85%RH（未結(jié)露、霜之狀態(tài)）
使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：偵測(cè)頭Φ51X137mm（0.5Kg） 本 體H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附屬裝置：放射率0.94、0.06基準(zhǔn)片各一片。
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