<button id="y0k2s"></button> 它能於蝕刻前、後，測量PCB穿孔內(nèi)鍍層厚度。獨(dú)特的設(shè)計(jì)使其能夠勝任對雙層或多層電路板的測量，甚至可以穿透錫 Sn 和錫/鉛 Sn/Pb 抗蝕層進(jìn)行測量。系列獨(dú)有的溫度補(bǔ)償特性使其適用於在電鍍過程中進(jìn)行厚度測量，進(jìn)而降低廢料、重工成本。
技術(shù)參數(shù)：
最大可測量板：不限
最薄可測量板：1.0mm 40 mil
測量孔徑范圍：Æ 0.45mm 18 mil －Æ 2.0mm 80 mil
孔壁Cu厚度測量範(fàn)圍：2.5 - 100um 0.1 - 4 mil
孔徑測量範(fàn)圍：
EP-30探針：0.8 - 2.0mm 32 - 80 mil
EP-25探針：0.6 - 0.8mm 24 - 32 mil
EP-20探針：0.45 - 0.6 mm 18 - 24 mil
生產(chǎn)過程中能及時(shí)發(fā)現(xiàn)瑕疵是很重要的，所以我們研制了PTH-1/ITM-52這部手提式測厚儀，測量線路板孔內(nèi)鍍銅（PTH）厚度，同時(shí)也能測量敷銅板的銅箔厚度。PTH-1/ITM-52能夠快速地提供答案！技術(shù)原理：渦流式最大可測量板：不限最薄可測量板：1.0mm (40 mil)最厚可測量板：2.4mm (96 mil)探針插入方法：手動 (或用探針座)自動板厚度和孔徑辨別：不需要最小能測量孔： 0.45mm (18mil) ＊最大能測量孔： 2.0mm (80 mil) ＊孔壁Cu厚度測量范圍：2.5um - 100um (0.1mil-4 mil)銅箔厚度測量范圍：SP-100 ;選件※15um-100um (0.6mil-4.0mil)適用于單層、雙層及多層板測量孔內(nèi)鍍銅厚度。無論已蝕刻和未蝕刻及已鍍錫(Sn)和未鍍錫(Sn)的線路板均可快速地測量出孔內(nèi)鍍銅厚度。能測量的孔徑小至0.45mm (18 mil) ;選件※雙功能，測量線路板孔內(nèi)鍍銅(PTH) 厚度，及敷銅板的銅箔厚度。選件※高解度之LCD顯示，堅(jiān)固耐用之鍵盤？沙潆婋姵丶敖涣鬟B接器 (200V)表面鍍鈦的探針可進(jìn)行濕板測量，不會腐蝕探針。專利以渦流式設(shè)計(jì)，相比其他同類儀器能更少地受銅表面或蝕刻墊的影響。內(nèi)建功能包括：標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)功能，長方條表示的統(tǒng)計(jì)和索引功能？蓛Υ娓咧15,000個(gè)測量數(shù)據(jù)，及通過RS-232C傳送測量數(shù)據(jù)。
PPHD-1000 瓶坯壁厚測試儀
使用步驟說明 一、將所測管坯套入檢測桿上。 二、根據(jù)管坯長度，調(diào)節(jié)限位塊位置至狀態(tài)。 三、根據(jù)所測管坯的壁厚，調(diào)整百分表固定高度，使球形觸點(diǎn)壓進(jìn)坯身0.5mm即可，不可太少或太多，以免影響百分表的靈敏度和檢測數(shù)據(jù)的度。 四、右手慢慢地旋轉(zhuǎn)管坯《以瓶口限位塊為原點(diǎn)》左手輕提百分表，每旋轉(zhuǎn)一次管坯，百分表指針都會指向相應(yīng)的刻度位，根據(jù)百分表指針?biāo)鶖[動的幅度，確定管坯的壁厚差。 五、注意事項(xiàng)： 1、 不可隨意松動檢測桿的鎖緊螺母。 2、 根據(jù)所測管坯的坯形選擇正確的管坯限位套。 3、 每次測量前一定要先檢查百分表固定螺絲是否已鎖緊。 4、 不要用重物碰觸或敲擊百分表。
CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。同時(shí)CMI 760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI 760配置包括：
--CMI 760主機(jī)
--SRP-4探頭
--SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)）
--NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片
數(shù)顯底厚壁厚儀 底厚測試儀 壁厚分析儀
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牛津儀器測厚儀器CMI 760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦
流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度和精確的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。同時(shí)CMI 760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI 760配置包括：
--CMI 760主機(jī)
--SRP-4探頭
--SRP-4探頭替換用探針模塊（1個(gè)）
--NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片
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