其他產(chǎn)品及廠家
日本samco紫外臭氧清洗機(jī) uv-1, 是一款緊湊型臺(tái)式紫外線臭氧清洗機(jī)。該系統(tǒng)將紫外線照射、臭氧和平臺(tái)加熱獨(dú)特地結(jié)合在一起，溫和而有效地去除硅、玻璃、化合物半導(dǎo)體（gan、gaas、inp、sic）、藍(lán)寶石、陶瓷等各種基材上的有機(jī)物。
更新時(shí)間:2025-07-04
fr-es 是一款輕巧便捷的膜厚測(cè)量分析系統(tǒng), 能測(cè)量各種厚度范圍的透明和半透明涂層以及薄金屬層.fr-es 是 實(shí)驗(yàn)室里 的 理想 配置。fr-es 可以在各種光譜范圍內(nèi)執(zhí)行反射率和透射率測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-04
德國(guó)pva tepla 超聲波掃描顯微鏡 sam 301, 利用材料內(nèi)部組織因密度不同而對(duì)超聲波聲阻抗、超聲波吸收與反射程度產(chǎn)生差異的特點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部缺陷的定性分析，在半導(dǎo)體封裝及材料等行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。可分辨出材料、元器件內(nèi)部的裂紋、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)等；廣泛用于測(cè)試各種元器件、smt焊接器件、igbt器件、mems器件、晶圓鍵合等內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-07-04
美rkd激光開(kāi)封機(jī)ra-9000簡(jiǎn)單方便進(jìn)行半導(dǎo)體塑料封裝去屑，露出基板上的引線框架。完全圖形化的使用者操作介面，簡(jiǎn)易的進(jìn)行控制操作。輕易達(dá)成整面或定點(diǎn)，平整的塑料開(kāi)封作業(yè)。大量減低化學(xué)開(kāi)封的用酸量及時(shí)間，並將開(kāi)封成功率地大比率提升。
更新時(shí)間:2025-07-04
tl系列激光開(kāi)封機(jī)通過(guò)激光能量的調(diào)節(jié)控制，去除封裝電子器件的塑膠層。用于觀察電子器件內(nèi)部焊線偏移，焊線交叉短路，倒裝焊焊球虛焊，倒裝焊焊球短路，焊線斷裂，焊線脫離等封裝缺陷。
更新時(shí)間:2025-07-04
高粘度樣品用液中粒子傳感器xp-65/ks-42c（改）無(wú)需稀釋即可測(cè)量原液（可達(dá)6000 cp）。支持在線和離線測(cè)量。廣泛的可測(cè)粒徑范圍xp-65：0.2μm～1.0μm，ks-42c（改）：0.5μm～20μm
更新時(shí)間:2025-07-04
eda 407專(zhuān)為光電子器件的質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)■ 從密封封裝中進(jìn)行精確氣體分析■ 氣體成分的直觀分析■ 簡(jiǎn)明易用的軟件套件■ 全自動(dòng)化的氣體進(jìn)樣系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-04
桌上型hmds烘箱，小型hmds真空烤箱采用hmds涂布方法改變晶圓表面的親水性，從而增大晶圓表面的接觸角），增強(qiáng)光刻膠和晶圓的粘附力。
更新時(shí)間:2025-07-04
hmds氣相成底膜烘箱 真空hmds氣相烘箱應(yīng)用硅片、磷化銦lnp、砷化鎵gaas、鈮酸鋰linbo?、硫化鋅zns、掩膜版、玻璃、石英片、藍(lán)寶石、晶圓、碳化硅等第三代、第四代半導(dǎo)體材料等。
更新時(shí)間:2025-07-04
智能型無(wú)塵無(wú)氧烘箱 高溫氮?dú)鉄o(wú)氧pi烤箱 pi固化爐電子膠體固化：銀膠/bcb膠/光刻膠高溫固化（300-450℃）晶圓加工：退火處理、pi膜烘烤（±1℃波動(dòng)精度）陶瓷燒結(jié)：電子陶瓷材料無(wú)塵烘干（class100潔凈環(huán)境
更新時(shí)間:2025-07-04
硅烷沉積系統(tǒng) 硅烷氣相沉積設(shè)備 真空硅烷涂膠機(jī)是一種用于硅烷（siih?）作為前驅(qū)體的薄膜沉積設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體、納米壓印脫模工藝、光伏（太陽(yáng)能電池）、顯示面板、玻璃、陶瓷納米材料等領(lǐng)域的材料制備。硅烷（sih?）因其高反應(yīng)性和低溫沉積特性，成為沉積非晶硅（a-si）、微晶硅（μc-si）、氮化硅（sin?）和氧化硅（sio?）等薄膜的關(guān)鍵化學(xué)品。
更新時(shí)間:2025-07-04
硅烷沉積設(shè)備 抗粘劑蒸鍍系統(tǒng) 納米壓印抗粘設(shè)備通過(guò)表面修飾的模板,可以大大降低模板與壓印聚合物層之間的相互作用力,在納米壓印過(guò)程中實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)較好的轉(zhuǎn)移,復(fù)制.
更新時(shí)間:2025-07-04
大型hmds真空烘箱 4門(mén)hmds真空烤箱 hmds硅烷蒸鍍機(jī)定制是半導(dǎo)體光刻工藝中的關(guān)鍵設(shè)備，主要用于基片表面預(yù)處理，通過(guò)六甲基二硅氮烷（hmds）涂布增強(qiáng)光刻膠與基片的黏附性
更新時(shí)間:2025-07-04
桌上型無(wú)氧烘箱 實(shí)驗(yàn)高溫?zé)o氧固化爐 真空無(wú)氧烤箱專(zhuān)為高精度電子元件、ic/芯片、pi/bcb/cpi/bpo等膠水等材料設(shè)計(jì)的緊湊型固化設(shè)備，結(jié)合無(wú)氧環(huán)境與高效加熱技術(shù)，確保材料在固化過(guò)程中避免氧化。
更新時(shí)間:2025-07-04
北京錦正茂科技有限公司自主研發(fā)的多電磁鐵以四電磁鐵居多，也有五、六、八等多的應(yīng)用，主要應(yīng)用于多磁環(huán)充磁、徑向梯度磁場(chǎng)、旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)磁導(dǎo)向等多種應(yīng)用，
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品介紹浪涌電流測(cè)試儀，是二管等相關(guān)半導(dǎo)體器件測(cè)試的重要檢測(cè)設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1、該系統(tǒng)的測(cè)試控制完全采用自動(dòng)控制，測(cè)試可按測(cè)試員設(shè)定的程序進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。2、該系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試結(jié)果，并可將測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)化為excel文件進(jìn)行處理。3、該套測(cè)試設(shè)備主要由以下幾個(gè)單元組成： a、浪涌測(cè)試單元 b、阻斷參數(shù)測(cè)試單元 c、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介該測(cè)試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗(yàn)測(cè)試中不可缺少的用測(cè)試設(shè)備。該套測(cè)試設(shè)備主要有以下幾個(gè)單元組成：1)門(mén)觸發(fā)參數(shù)測(cè)試單元2)維持電流測(cè)試單元3)阻斷參數(shù)測(cè)試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測(cè)試單元5)電壓上升率參數(shù)測(cè)試單元6)擎住電流7)門(mén)電阻8)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)9)合格證標(biāo)簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時(shí)間:2025-07-04
產(chǎn)品介紹交流阻斷（或反偏）耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下，對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時(shí)間，從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。 一般情況下
更新時(shí)間:2025-07-04
本公司生產(chǎn)的實(shí)用新型公開(kāi)了一種自動(dòng)壓力機(jī)夾具,包括水平設(shè)置在壓力機(jī)上的多對(duì)夾臂,在所述每對(duì)夾臂相對(duì)的夾持面上均設(shè)置有橡膠墊.本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)在于將夾臂的夾持面上設(shè)置有橡膠墊,這樣當(dāng)夾具夾持耐火磚時(shí)由于有橡膠墊的緩沖,不僅能夠方便的夾取磚體,而且對(duì)耐火磚起到一定的保護(hù)作用,有效防止了耐火磚夾裂或夾破,大大減少了耐火磚的破損率.
更新時(shí)間:2025-07-04
阻斷特性測(cè)試儀的測(cè)試原理：符合國(guó)際及行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可對(duì)大功率半導(dǎo)體器件（含晶閘管）進(jìn)行阻斷特性的測(cè)試。測(cè)試電壓和漏電流值采用實(shí)時(shí)數(shù)字顯示，便于數(shù)據(jù)的觀察和記錄。采用手動(dòng)調(diào)壓器加壓模式，可實(shí)
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介浪涌電流測(cè)試儀，是二管等相關(guān)半導(dǎo)體器件測(cè)試的重要檢測(cè)設(shè)備，該設(shè)備具有如下特點(diǎn)：1、該系統(tǒng)的測(cè)試控制完全采用自動(dòng)控制，測(cè)試可按測(cè)試員設(shè)定的程序進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。2、該系統(tǒng)采用計(jì)算機(jī)記錄測(cè)試結(jié)果，并可將測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)化為excel文件進(jìn)行處理。3、該套測(cè)試設(shè)備主要由以下幾個(gè)單元組成： a、浪涌測(cè)試單元 b、阻斷參數(shù)測(cè)試單元 c、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介該測(cè)試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗(yàn)測(cè)試中不可缺少的用測(cè)試設(shè)備。 該套測(cè)試設(shè)備主要有以下幾個(gè)單元組成：1)門(mén)觸發(fā)參數(shù)測(cè)試單元2)維持電流測(cè)試單元3)阻斷參數(shù)測(cè)試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測(cè)試單元5)電壓上升率參數(shù)測(cè)試單元6)擎住電流7)門(mén)電阻8)計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)9)合格證標(biāo)簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時(shí)間:2025-07-04
一. 功能簡(jiǎn)介全動(dòng)態(tài)測(cè)試的基本原理是在一個(gè)工頻半周內(nèi)對(duì)被測(cè)元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個(gè)半周內(nèi)施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測(cè)量它的動(dòng)態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介雪崩能量測(cè)試臺(tái)，是門(mén)設(shè)計(jì)測(cè)試igbt、二管、mos管測(cè)試設(shè)備，對(duì)于那些在應(yīng)用過(guò)程中功率器件兩端產(chǎn)生較大電壓的尖峰應(yīng)用，就要考慮器件的雪崩能量，電壓的尖峰所集中的
更新時(shí)間:2025-07-04
mosfet參數(shù)測(cè)試設(shè)備：靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（包括igss / bvr / vds（sat） / idss / vgsth / vf / rds（on））；動(dòng)態(tài)參數(shù)（開(kāi)通關(guān)斷/反向恢復(fù)/短路/安全工作區(qū)
更新時(shí)間:2025-07-04
華測(cè)儀器的hc-rd-1100可以同時(shí)測(cè)定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時(shí)間:2025-07-04
hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
更新時(shí)間:2025-07-04
hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
更新時(shí)間:2025-07-04
hcyd高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高，測(cè)量量程更寬，可靠性更高，操作更簡(jiǎn)單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。
更新時(shí)間:2025-07-04
hcyd高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高，測(cè)量量程更寬，可靠性更高，操作更簡(jiǎn)單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。
更新時(shí)間:2025-07-04
hcyd高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高，測(cè)量量程更寬，可靠性更高，操作更簡(jiǎn)單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。
更新時(shí)間:2025-07-04
電聲脈沖法是一種無(wú)損的空間電荷測(cè)量技術(shù)。它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為。空間電荷測(cè)量系統(tǒng)正在成為評(píng)估直流絕緣應(yīng)用(尤其是高壓電纜)中的聚合物材料測(cè)試時(shí)不錯(cuò)的技術(shù)。實(shí)際上，經(jīng)過(guò)充分的評(píng)估，空間電荷的存在是導(dǎo)致高壓直流聚合物電纜過(guò)早失效的主要原因，而且也是防止此類(lèi)電纜快速劣化的主要原因。
更新時(shí)間:2025-07-04
面對(duì)材料因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
更新時(shí)間:2025-07-04
1.鐵電的評(píng)價(jià)與測(cè)試2.壓電材料的評(píng)價(jià)與測(cè)試3.壓電陶瓷的評(píng)價(jià)與測(cè)試4.高分子的評(píng)價(jià)與測(cè)試5.相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-04
1.鐵電的評(píng)價(jià)與測(cè)試2.壓電材料的評(píng)價(jià)與測(cè)試3.壓電陶瓷的評(píng)價(jià)與測(cè)試4.高分子的評(píng)價(jià)與測(cè)試5.相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-04
公司生產(chǎn)的行星減速機(jī)產(chǎn)品齊全，主導(dǎo)產(chǎn)品有pl、pf、ps、ib、ie、pn、id、ad、ibr等系列。廣泛應(yīng)用于自動(dòng)化產(chǎn)業(yè)、工業(yè)機(jī)器人航空航天、數(shù)控機(jī)床、冶金礦山、啤酒飲料、煙草輕工、環(huán)保工程、倉(cāng)儲(chǔ)物流、塑料機(jī)械、起重運(yùn)輸、立體停車(chē)、汽車(chē)制造、紡織、食品陶瓷等域。
更新時(shí)間:2025-07-04
huace-dcs10kv電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的
更新時(shí)間:2025-07-04
huace fe系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，在±500v內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500khz；此系統(tǒng)包含huacepro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kv、10kv、20kv，huace fe主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，iv、cv、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、tsdc和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-04
華測(cè)ha系列高壓電源是高性能機(jī)箱式高壓電源，hchv系列具有完善的保護(hù)系統(tǒng)？蛇b控或本地控制，面板有電壓、電流顯示，高壓輸入端過(guò)壓、過(guò)流、短路保護(hù)、拉弧、過(guò)溫保護(hù)和安全鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。hchv系列是種高性能、可 靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-07-04
華測(cè)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)，針對(duì)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)做了安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中在過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過(guò)程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異；蛩矔r(shí)斷電時(shí)，可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新開(kāi)啟后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-07-04
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 31838.2-2019、gb/t31838.7-2021標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，并參考美國(guó)astm標(biāo)準(zhǔn)(d257、d1829)。利用獨(dú)特的電阻測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
更新時(shí)間:2025-07-04
電荷量表結(jié)合了華測(cè)高靈敏度電壓、電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。匹配不同規(guī)格法拉第筒。
更新時(shí)間:2025-07-04
huace fe-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各類(lèi)鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。采用模塊化設(shè)計(jì)的huace fe-3000具有強(qiáng)大擴(kuò)展性。在鐵電測(cè)試領(lǐng)域其高測(cè)試精度能力，在±200v的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)270khz。
更新時(shí)間:2025-07-04
一、產(chǎn)品概述面對(duì)材料越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長(zhǎng)期電化學(xué)腐蝕平臺(tái)，可高精度連續(xù)試驗(yàn)，gao效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的
更新時(shí)間:2025-07-04
華測(cè)超高速鐵電材料高壓放大器系列，是以我公司關(guān)于高電壓的多年經(jīng)驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)為基礎(chǔ)而完成的，架式高速高電壓的運(yùn)算放大器電源。zui高100khz的高速響應(yīng)，可以在與輸入波形成比例的正弦波、三角波、鋸波和矩形波中進(jìn)行高電壓輸出。從輸出電壓600v到20kv共19機(jī)種。
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huace650t高低溫冷熱臺(tái)（可定制）由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
更新時(shí)間:2025-07-04
華測(cè)儀器的hc-rd-1100可以同時(shí)測(cè)定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時(shí)間:2025-07-04
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