其他產(chǎn)品及廠家
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-07-07
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-07-07
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-07-07
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-07-07
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-07-07
相關產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-07-07
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-07-07
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-07-07
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-07-07
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-07-07
相關產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-07-07
相關產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-07-07
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-07-07
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-07-07
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-07-07
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-07-07
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-07-07
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-07-07
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-07-07
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-07-07
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-07-07
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-07-07
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-07-07
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-07-07
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-07-07
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-07-07
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-07-07
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-07-07
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序：
更新時間:2025-07-07
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-07-07
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-07-07
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-07-07
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-07-07
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-07-07
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-07-07
具有全自動失真度測量功能，信號頻率自動測量，顯示， 內(nèi)部自動校準，自動跟蹤濾波。 可測量的小失真度達0.005%。 具有自動測量信/雜比（sinad)和信/噪比（s/n)的功能。 具有測量平衡信號或不平衡信號的功能。 設有示波器輸出監(jiān)視插孔，方便使用者觀察被測信號的波形。 可選rs-232接口
更新時間:2025-07-07
性能提升的中檔電感測量儀 簡便操作與強大功能的合理結合 讀數(shù)穩(wěn)定性好 高達16次/的測量速度 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 提供rs-232c接口 分選及handler接口可選樣
更新時間:2025-07-07
性能提升的中檔電容測量儀 良好的測試穩(wěn)定性 抗沖擊能力強 合理的功能配置 固定的輸出阻抗，特別適合陶瓷電容器的測量 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 rs232、handler接口
更新時間:2025-07-07
簡便操作與強大功能的合理結合 采用smt表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性 大型用白色背光lcd顯示屏 100hz～100khz,8個典型測試頻率 0.1v、0.3v、1.0v三個典型測試電平 30ω/100ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同lcr表的測試一致性 配置rs232接口和handler接口
更新時間:2025-07-07
yd2817d-1全新模具，外觀更美觀可選擇六個典型頻率，高100khz三檔測試電平，主副參數(shù)顯示操作簡便，性能可靠四檔分選plc標配
更新時間:2025-07-07
yd2616dlcd液晶顯示主副參數(shù)四個典型測試頻點三檔電平選擇30ω 100ω兩種輸入阻抗五檔分選讀數(shù)穩(wěn)定性好，性能穩(wěn)定
更新時間:2025-07-07
yd2776a240×128大屏lcd顯示全中文操作界面，簡單易懂30hz～200khz共39個測試頻點30ω/100ω可選信號源輸入阻抗12檔分選計數(shù)，訊響條件選擇直讀、檔號、鍵盤鎖定功能plc\rs232接口選擇
更新時間:2025-07-07
產(chǎn)品介紹本系列程控耐壓測試儀均采用高速mcu和大規(guī)模數(shù)字電路設計的高性能的安規(guī)測試儀，其輸出電壓的大小 、輸出電壓的上升 、下降、輸出電壓的頻率完全由mcu控 制，能實時顯示擊穿電流值和電壓值，并具有軟體校準功能，配備plc接口、rs232c、rs485、usb device、usb host接口、可方便與計算機或plc組成綜合測試系統(tǒng)。
更新時間:2025-07-07
rk9830n智能電量測量儀（數(shù)字功率計），可以同時測量單、三相用電設備的電壓、電流、功率、功率因數(shù)、頻率、電能等參數(shù)，測量內(nèi)容豐富，具有量程范圍寬，預置報警、鎖存和通訊等功能。
更新時間:2025-07-07
rk-8多路溫度巡檢儀是一種適用于多點溫度同時實時監(jiān)控跟蹤的儀表，配備軟件可將整個溫升變化過程全部以曲線方式記錄下來，便于保存分析，交流。具備測量方便、精度高、熱電偶測試點可重復利用的優(yōu)點。
更新時間:2025-07-07
rk2830是全新一代通用高性能lcr表。外形美觀，操作簡便。該產(chǎn)品采用32位arm處理器，測試快速穩(wěn)定，同時配有100hz-10khz和50mv-2.0v信號電平，可滿足元件與材料的所有測量要求，為產(chǎn)線質(zhì)量保證、進貨檢驗及實驗室的高精度測量提供了保障。應用域本儀器可廣泛應用于工廠，院校，研究所，計量質(zhì)檢部門等對各類元器件的參數(shù)進行較為精確的測量。
更新時間:2025-07-07
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應和聲阻抗等電生理學檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-07-07
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。
更新時間:2025-07-07
最新產(chǎn)品
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