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    其他產(chǎn)品及廠家

    EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
    emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
    更新時間:2025-07-07
    Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
    相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
    更新時間:2025-07-07
    EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
    更新時間:2025-07-07
    EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
    更新時間:2025-07-07
    EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
    emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
    更新時間:2025-07-07
    ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
    misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
    更新時間:2025-07-07
    Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
    misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
    更新時間:2025-07-07
    EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
    emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進(jìn)入該階段。
    更新時間:2025-07-07
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
    相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
    更新時間:2025-07-07
    CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
    更新時間:2025-07-07
    CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
    更新時間:2025-07-07
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
    更新時間:2025-07-07
    控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
    更新時間:2025-07-07
    數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
    更新時間:2025-07-07
    clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
    更新時間:2025-07-07
    數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
    更新時間:2025-07-07
    復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
    復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
    更新時間:2025-07-07
    梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
    梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
    更新時間:2025-07-07
    PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
    遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
    更新時間:2025-07-07
    PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
    cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
    更新時間:2025-07-07
    PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
    pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
    更新時間:2025-07-07
    PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
    pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
    更新時間:2025-07-07
    PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
    pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
    更新時間:2025-07-07
    pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
    更新時間:2025-07-07
    pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
    更新時間:2025-07-07
    Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
    更新時間:2025-07-07
    Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
    更新時間:2025-07-07
    Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
    更新時間:2025-07-07
    Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
    更新時間:2025-07-07
    Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
    更新時間:2025-07-07
    Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州中策失真度測量儀ZC4116
    具有全自動失真度測量功能,信號頻率自動測量,顯示, 內(nèi)部自動校準(zhǔn),自動跟蹤濾波。 可測量的小失真度達(dá)0.005%。 具有自動測量信/雜比(sinad)和信/噪比(s/n)的功能。 具有測量平衡信號或不平衡信號的功能。 設(shè)有示波器輸出監(jiān)視插孔,方便使用者觀察被測信號的波形。 可選rs-232接口
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州中策電感測試儀ZC2776D
    性能提升的中檔電感測量儀 簡便操作與強大功能的合理結(jié)合 讀數(shù)穩(wěn)定性好 高達(dá)16次/的測量速度 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 提供rs-232c接口 分選及handler接口可選樣
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州中策電容測量儀ZC2617D
    性能提升的中檔電容測量儀 良好的測試穩(wěn)定性 抗沖擊能力強 合理的功能配置 固定的輸出阻抗,特別適合陶瓷電容器的測量 鍵盤鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 rs232、handler接口
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州中策LCR數(shù)字電橋ZC2817D
    簡便操作與強大功能的合理結(jié)合 采用smt表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性 大型用白色背光lcd顯示屏 100hz~100khz,8個典型測試頻率 0.1v、0.3v、1.0v三個典型測試電平 30ω/100ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同lcr表的測試一致性 配置rs232接口和handler接口
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州揚子寬頻LCR數(shù)字電橋YD2817D-1
    yd2817d-1全新模具,外觀更美觀可選擇六個典型頻率,高100khz三檔測試電平,主副參數(shù)顯示操作簡便,性能可靠四檔分選plc標(biāo)配
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州揚子電容測試儀YD2616D
    yd2616dlcd液晶顯示主副參數(shù)四個典型測試頻點三檔電平選擇30ω 100ω兩種輸入阻抗五檔分選讀數(shù)穩(wěn)定性好,性能穩(wěn)定
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)常州揚子電感測試儀YD2776A
    yd2776a240×128大屏lcd顯示全中文操作界面,簡單易懂30hz~200khz共39個測試頻點30ω/100ω可選信號源輸入阻抗12檔分選計數(shù),訊響條件選擇直讀、檔號、鍵盤鎖定功能plc\rs232接口選擇
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)美瑞克RK9960程控安規(guī)綜合測試儀
    產(chǎn)品介紹本系列程控耐壓測試儀均采用高速mcu和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計的高性能的安規(guī)測試儀,其輸出電壓的大小 、輸出電壓的上升 、下降、輸出電壓的頻率完全由mcu控 制,能實時顯示擊穿電流值和電壓值,并具有軟體校準(zhǔn)功能,配備plc接口、rs232c、rs485、usb device、usb host接口、可方便與計算機(jī)或plc組成綜合測試系統(tǒng)。
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)美瑞克RK9830N三相智能電量測量儀
    rk9830n智能電量測量儀(數(shù)字功率計),可以同時測量單、三相用電設(shè)備的電壓、電流、功率、功率因數(shù)、頻率、電能等參數(shù),測量內(nèi)容豐富,具有量程范圍寬,預(yù)置報警、鎖存和通訊等功能。
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)美瑞克RK-8多路溫度巡檢儀
    rk-8多路溫度巡檢儀是一種適用于多點溫度同時實時監(jiān)控跟蹤的儀表,配備軟件可將整個溫升變化過程全部以曲線方式記錄下來,便于保存分析,交流。具備測量方便、精度高、熱電偶測試點可重復(fù)利用的優(yōu)點。
    更新時間:2025-07-07
    供應(yīng)美瑞克RK2830LCR數(shù)字電橋
    rk2830是全新一代通用高性能lcr表。外形美觀,操作簡便。該產(chǎn)品采用32位arm處理器,測試快速穩(wěn)定,同時配有100hz-10khz和50mv-2.0v信號電平,可滿足元件與材料的所有測量要求,為產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗及實驗室的高精度測量提供了保障。應(yīng)用域本儀器可廣泛應(yīng)用于工廠,院校,研究所,計量質(zhì)檢部門等對各類元器件的參數(shù)進(jìn)行較為精確的測量。
    更新時間:2025-07-07
    耳酷靈聽力篩查儀
    力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測,在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽力篩查儀,具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽。 顯著提高工作效率
    更新時間:2025-07-07
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
    更新時間:2025-07-07
    出租Tektronix USB2.0測試夾具
    出租tektronix usb2.0測試夾具
    更新時間:2025-07-07
    MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
    mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
    更新時間:2025-07-07
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
    更新時間:2025-07-07
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
    更新時間:2025-07-07
    硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
    硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
    更新時間:2025-07-07

    最新產(chǎn)品

    熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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