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HCLD-3高壓漏電起痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超g

更新時(shí)間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

HCLD-3耐漏電起痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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HCLD-3漏電起痕指數(shù)CTI測試儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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HCLD-3高壓漏電檢測儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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HCLD-3耐電痕試驗(yàn)儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

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高溫介電溫譜測量系統(tǒng)

高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運(yùn)用三電法設(shè)計(jì)原理測量。并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的精確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配labview系統(tǒng)開發(fā)的huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電

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該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

更新時(shí)間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：北京淼森波信息技術(shù)有限公司

USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試

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GSC60CNGSC60CN多功能電氣安全電能質(zhì)量綜合分析儀，安規(guī)儀

原裝進(jìn)口產(chǎn)品，觸摸屏操作簡單。由普通電池供電，方便操作現(xiàn)場更換，功能強(qiáng)大，可以測量電能質(zhì)量、連續(xù)性、絕緣電阻、線路/回路阻抗、接地電阻與土壤電阻率、rcd跳閘時(shí)間和電流，無跳閘時(shí)的接地回路阻抗、接觸電壓ut、相序、泄露電流、環(huán)境參數(shù)等

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該公司產(chǎn)品分類：廣州愛啟提測試儀器有限公司

AFA-50足底壓力分析儀足底壓力測量儀鴻泰盛三維便攜

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案�？蛇m用于疼痛科、康復(fù)科、神經(jīng)內(nèi)科、足踝外科、骨科等科室，廣泛應(yīng)用于體檢康復(fù)、運(yùn)動(dòng)康復(fù)、教學(xué)科研等域。

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S1全自動(dòng)鞋墊機(jī) 足型檢測儀鞋墊定制3D設(shè)備鞋機(jī) S1

boonfeet s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用獨(dú)特的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場5分鐘即可獲得一雙完全貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。

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Gaitview步態(tài)分析儀

●僅厚3mm、gai+view 超薄的測試板！●足底壓力的大小與分布能反映人體腿，足結(jié)構(gòu)。功能及整個(gè)身體姿勢控制等信息，測試。分析足底應(yīng)力，對臨床診斷。疾患程度測定和術(shù)后療效評價(jià)均具有重要意義�！駁aitview特點(diǎn)●很高的便攜性僅有3mm厚度，是很薄的足壓測試儀，同時(shí)其尺寸僅為50*70cm,重量僅為4.8kg,具有很高的便攜性。

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ioi353人體成分分析儀

便攜式人體成分分析儀01用包成箱,移動(dòng)安全、方便02人體工程學(xué)設(shè)計(jì)03.超輕型,約10kg04.a4打印機(jī)或熱敏打�。ㄟx配）05.7英寸彩色液晶顯示屏06.3-5分鐘即會(huì)操作07.語音向?qū)Чδ?8.u盤數(shù)據(jù)備份

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foncti-630體態(tài)評估儀脊柱功能檢測儀器鴻泰盛 foncti-630

foncti-630體態(tài)評估系統(tǒng)，是一款集合3d體態(tài)檢測，步態(tài)檢測于一體的智能體測系統(tǒng)。系統(tǒng)采用沿的遠(yuǎn)紅外與結(jié)構(gòu)光技術(shù)，模擬人體骨骼位置結(jié)構(gòu)，分析肌肉功能狀態(tài)，診斷動(dòng)態(tài)步態(tài)異常，預(yù)測各項(xiàng)健康風(fēng)險(xiǎn)，給予客戶健康評分并為客戶定制完整運(yùn)動(dòng)方案。

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BoonFeet S1腳型測量儀足部檢測鴻泰盛快速定制鞋墊

腳型測量儀足部檢測鴻泰盛快速定制鞋墊同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。與此同時(shí)，系統(tǒng)采用的加熱定型技術(shù)，該技術(shù)在足墊定制過程中操作簡單，效率很高，現(xiàn)場8分鐘即可獲得一雙貼合用戶足弓足型的定制足墊，用戶可以現(xiàn)場直接穿戴。

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T280T-280S--TRACKING 體能測試設(shè)備鴻泰盛交互式

動(dòng)態(tài)體能評估系統(tǒng)t280s是一款集動(dòng)態(tài)體能評估、體適能評估、運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、運(yùn)動(dòng)健康分析、智能訓(xùn)練指導(dǎo)為一體的評估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過穿戴式傳感器進(jìn)行動(dòng)作數(shù)據(jù)采集，對8個(gè)或以上特定動(dòng)作的動(dòng)態(tài)測試，采集身體運(yùn)動(dòng)參數(shù)，遠(yuǎn)程無線數(shù)據(jù)傳輸，與交互平臺(tái)配合分析人體的重心運(yùn)動(dòng)軌跡及人體的運(yùn)動(dòng)姿態(tài)，自動(dòng)進(jìn)行分析并生成測試報(bào)告和出具訓(xùn)練建議。

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AFA-50足底壓力測試系統(tǒng) 便捷式 AFA-50足底壓力測量儀

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。

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CareBo-810兒童人體成分分析儀 CareBo-810 折疊機(jī)身

carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。

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BoonFeet C1鞋墊機(jī)器足型檢測儀鞋墊定制3D設(shè)備 C1

鞋墊機(jī)器足型檢測儀鞋墊定制3d設(shè)備 c1同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。

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AFA-50三維步態(tài)分析儀足底壓力測試板步態(tài)分析儀鴻泰盛

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。

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carebo-810身體成分分析儀器體測儀人體成分檢測儀鴻泰盛

carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實(shí)數(shù)據(jù)，通過獨(dú)有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項(xiàng)目。

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S13D矯正鞋墊機(jī) 足型檢測儀鞋墊定制機(jī) 全自動(dòng)鞋墊機(jī) S1

全自動(dòng)鞋墊機(jī)s1足墊定制系統(tǒng)同時(shí)具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，作出針對性足墊解決方案。

更新時(shí)間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：鴻泰盛（北京）科技有限公司

AFA-50穿戴式步態(tài)分析儀足部壓力檢測儀鴻泰盛便捷式

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。

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AFA-50足底壓力測試儀足底壓力分析儀鴻泰盛三維便攜

足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個(gè)），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個(gè)等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試

misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室開放實(shí)驗(yàn)室硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試

misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室開放實(shí)驗(yàn)室硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題

mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個(gè)測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測量每條通道的眼圖。

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題重起問題

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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題

mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。

更新時(shí)間:2025-07-04

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。

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MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。

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PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

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EMMC 上電時(shí)序測試電源紋波測試

emmc 上電時(shí)序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。

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EMMC 時(shí)鐘測試數(shù)據(jù)信號(hào)測試

emmc 時(shí)鐘測試數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

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EMMC 控制信號(hào)測試控制信號(hào)過沖測試控制信號(hào)高低電平測試

emmc 控制信號(hào)測試控制信號(hào)過沖測試控制信號(hào)高低電平測試

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EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。

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EMMC4 上電時(shí)序測試電源紋波測試時(shí)鐘測試數(shù)據(jù)信號(hào)測試

emmc4 上電時(shí)序測試電源紋波測試時(shí)鐘測試數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

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Emmc5 上電時(shí)序測試電源紋波測試時(shí)鐘測試數(shù)據(jù)信號(hào)測試

相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。

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