X射線熒光測厚儀_廠家天瑞儀器

  X射線熒光測厚儀是對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。鍍層厚度測試方法主要分為：電渦流法、磁感應(yīng)法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。，我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系。
 1、測量原理比較

測試方法	測試原理
金相法	利用金相顯微鏡放大橫截面的原理，對鍍層厚度放大，進(jìn)行觀測及測量。
庫侖法	利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層，根據(jù)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。
X射線光譜法	利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強(qiáng)度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在定的關(guān)系。根據(jù)校正標(biāo)準(zhǔn)塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這關(guān)系，給出覆蓋層線性厚度。

 2、標(biāo)準(zhǔn)、要求、儀器的選型

測試方法	參考標(biāo)準(zhǔn)	樣品要求	儀器
金相法	ASTM B487；GB/T 6462	鍍層厚度不小于1um	切割機(jī)、真空浸漬儀、研磨機(jī)、金相顯微鏡
庫侖法	ASTM B764；GB/T4955	平面不小于5mm2	電解測厚儀
X射線光譜法	ASTM B568； GB/T16921	測試面積大于0.05×0.25mm	X-ray鍍層測厚儀

 3、測試因素比較

	金相法	庫侖法	X射線光譜法
測試范圍	＞1um	0~35um	重金屬0~10um 、其它0~35um
測試精度	高	稍差	高
制樣	制樣復(fù)雜	配置不同電解液	簡單
工件損傷	有損	有損	無損
操作方法	操作復(fù)雜	復(fù)雜	簡單
測試效率	非常低	低	高
層數(shù)	不限	單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層	多5層
鍍層預(yù)知	不需要	需要	需要
合金鍍層厚度	可測	不可測	可測
合金成分	EDS聯(lián)用	不可測	可測
溶液成分測試	不可測	不可測	可測
人為因素	影響大	影響大	影響小
價格	較高	低	高

  4.應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢1.x射線電鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理2.可快速對樣品做定性分析3.對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析4.譜線峰背比高,分析靈敏度高5.不破壞試樣,無損分析6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)7.設(shè)備、維修、維護(hù)簡單8.快速：般測量個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進(jìn)行簡單處理。9.無損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)10.：對樣品可以分析11.直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快12.環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水 5.X熒光鍍層測厚儀Thick800A儀器介紹Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)及時。儀器性能特點(diǎn)1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求，可以對同鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊6.鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護(hù) 儀器參數(shù)規(guī)格1   分析元素范圍：S-U2   同時可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度：0.1mm6   測量時間：30s-300s7   計數(shù)率：1300-8000cps8   Z軸升降范圍：0-140mm9   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 儀器軟件優(yōu)勢:                                     儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式，測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 測試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試，其測試位置如圖。
        
                                                                   銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖 

樣 品 名	成分Ni(%)	鍍層Ni(um)
吊扣	100	19.321
吊扣2#	100	19.665
吊扣3#	100	18.846
吊扣4#	100	19.302
吊扣5#	100	18.971
吊扣6#	100	19.031
吊扣7#	100	19.146
平均值	100	19.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差	0	0.273409
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差	0	1.425257

銅鍍鎳件測試值結(jié)論

實(shí)驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測試效果完可以和顯微鏡測試法媲美。

 

 X射線熒光測厚儀廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，等離子發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。

 

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